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FTTH100G推进光网测试需求凸显

发布时间:2019-08-15 19:22:49

  测试是络质量提升的重要手段,更是络建设、运营的重要手段。测试一方面保证了业务的一致性和稳定性,同时可以有效地推动产业成熟。

  目前,测试已经不仅局限于对于络设备的测试,针对业务和用户感知的测试越来越重要。因此,包括测试技术研究、测试工具研发、实验室环境搭建、测试质量保障在内的各个环节,都会影响到整个测试的结果。

  光测试需求凸显

  在领域,随着中国移动完成现测试, 宽带中国 战略即将出台,工作正在全国轰轰烈烈进行。光通信测试的方法与技术正在随络的变化而改变。

  FTTH测试大致可以分为建设、维护、故障诊断等阶段。在建设阶段,FTTH的三个工作波长(1310nm、1490 nm和1550 nm)的损耗无疑是测试重点。PON中的光分路器会带来较大的损耗(如一个1∶32的光分路器本身的损耗将大于15 dB),不仅使下行的光产生损耗,上行的光也会产生基本相同的损耗。分路器的实现技术各不相同,使得每条光路的损耗可能存在差异,要想把每条光路的损耗严格限制在预算范围内是一个挑战。

  光回损是目前的测试难点之一。光回损不仅是能量损耗,还会导致发端激光器不稳定。根据ITU-TG.983和G.984系列建议,光回损值应优于32dB。由于PON是一个单纤双向的系统,因此光回损测试应该是双方向的。

  基于PON的FTTH对OTDR提出了新的要求,不仅要求支持1490nm波长的测试,还要具备穿通光分路器功能。此外,FTTH络虽然传输距离较短,但是光分路器引入的高损耗要求OTDR的动态范围要足够宽;接头较多要求选用的OTDR盲区较短、线性度高。

  在FTTH大规模部署阶段,测试工作将非常繁重,仪表的自动化成为需要考虑的因素之一。EXFO公司针对这一需求开发了FOT-930表,用户只需单键操作,在10s之内可以完成三个波长(1310nm、1490 nm和1550 nm)双方向损耗、光回损和长度测试,并自动存储测试结果。

  在激活和维护、故障诊断阶段,最常用的测试仪表是PON功率计。目前,或GPON系统采用时分多址技术,并且需要激活才能工作,要求PON功率计具有触发测试光功率能力且支持在穿通方式下进行ONT功率测试。另外,EPON和GPON工作速率不同,PON功率计需要做不同的优化。同时,FTTH建设初期还将面临业务开通的挑战,业务激活的多个环节需要手工施工,以至开通周期长、客户感知差。此外,在故障处理环节上,其故障率和申告率都为DSL的两倍以上,区域中心处理比重高、上门率高。

  为此,EXFO、为FTTH提供简便、快捷、智能化的多种解决方案。为FTTH进行提供有力支撑。

  建立端到端测试体系

  在我国,TD-测试是目前最受关注领域。TD-LTE技术的优势是高速,这也是未来无线宽带络非常重要的特性。在TD-LTE实验室测试和外场测试中,实测的速度往往能够接近理论上限。但这并不代表络测试的高速率和用户体验的实际速率能够完全一致。很多情况下,当测试人员使用模拟终端和模拟器进行测试的时候,测试的最高速率非常好。

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